SNU PRECISION
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Core Technology

SNU Precision的先进技术正在开启未来。

产品介绍

PSIS
非接触式三维表面形状测量

PSISPhoto Spacer Inspection System

Introduction 为了精确计算LCD工艺中的液晶输入,测量CF板的PS或TFT基板的凸块高度
Features 非接触式三维表面测量
纳米级分辨率,高速测量
测量 Item : PS/Bump 高度及 CD, RGB 段差, COA Via Hole 深度及段差, Overlay 等
Application LCD CF/CELL/TFT 工艺, OLED Frit 高度计 CD 测量, 其他需要高精度三维表面形状测量的领域